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시차주사 열량계 (DSC)
Differential Scanning Calimeter
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모델명 |
DSC 200 F3 Maia |
제작사 |
NETZSCH |
도입시기 |
2006년도 |
설치장소 |
열물성분석실 (에너지센터 407호) |
담당자 |
이은호 [내선 1512] |
eunholee@ajou.ac.kr |
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전계주사전자현미경 (FE-SEM) + EDS
Field Emission Scanning Electron Microscope
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모델명 |
JSM-6700F |
제작사 |
JEOL (Japan) |
도입시기 |
2005년도 |
설치장소 |
미세구조분석실 (에너지센터 B107호) |
담당자 |
곽현정 [내선 1511] |
angeleve3@ajou.ac.kr |
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레이져 현미경 (CLSM)
Confocal Laser Scanning Microscope
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모델명 |
OLS3000-300mm autostage |
제작사 |
Olympus |
도입시기 |
2006년도 |
설치장소 |
미세구조분석실 (에너지센터 406호) |
담당자 |
이은호 [내선 1512] |
eunholee@ajou.ac.kr |
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열전도도 측정기 (LFA)
Thermal Conductivity Tester
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모델명 |
LFA(Laser Flash Apparatus) 457 |
제작사 |
NETZCH |
도입시기 |
2005년도 |
설치장소 |
열물성분석실 (에너지센터 407호) |
담당자 |
이은호 [내선 1512] |
eunholee@ajou.ac.kr |
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열분석 및 질량분석기 (STA-MS)
Simultaneous Thermal Analyser-Mass Spectrometer
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모델명 |
STA 409pc + QMS 403c |
제작사 |
NETZSCH (German) |
도입시기 |
2005년도 |
설치장소 |
열물성분석실 (에너지센터 407호) |
담당자 |
이은호 [내선 1512] |
eunholee@ajou.ac.kr |
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열팽창계수 측정기 (DIL)
Dilatometer
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모델명 |
DIL 402C |
제작사 |
NETZSCH |
도입시기 |
2005년도 |
설치장소 |
열물성분석실 (에너지센터 407호) |
담당자 |
이은호 [내선 1512] |
eunholee@ajou.ac.kr |
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고출력 X-선 회절분석기 (HP-XRD)
High Power X-Ray Diffractometer
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모델명 |
D/max-2500V/PC |
제작사 |
Rigaku (Japan) |
도입시기 |
2005년도 |
설치장소 |
X선구조분석실 (에너지센터 409호) |
담당자 |
배시라 [내선 1577] |
sira2001@ajou.ac.kr |
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고분해능 X-선 회절분석기 (HR-XRD)
High Resolution X-Ray Diffractometer
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모델명 |
UltimaⅢ |
제작사 |
Rigaku (Japan) |
도입시기 |
2005년도 |
설치장소 |
X선구조분석실 (에너지센터 409호) |
담당자 |
배시라 [내선 1577] |
sira2001@ajou.ac.kr |
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X-선 형광분석기 (WD-XRF)
Wavelength Dispersive X-ray Fluescence Spectrome
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모델명 |
ZSX Primus |
제작사 |
Rigaku (Japan) |
도입시기 |
2006년도 |
설치장소 |
원소분석실 (에너지센터 403호) |
담당자 |
이지연 [내선 1513] |
jy10679@ajou.ac.kr |
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주사사전자현미경 (SEM)
Scanning Electron Microscope
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모델명 |
JSM-6380 |
제작사 |
JEOL (Japan) |
도입시기 |
2005년도 |
설치장소 |
미세구조분석실 (에너지센터 408호) |
담당자 |
곽현정 [내선 1511] |
angeleve3@ajou.ac.kr |