- X-선 형광분석기 (WD-XRF)
- Wavelength Dispersive X-ray Fluescence Spectrome
- 모델명
- ZSX Primus
- 제작사
- Rigaku (Japan)
- 도입시기
- 2006년도
- 설치장소
- 원소분석실 (에너지센터 403호)
- 담당자
- 이민지 [내선 1513] lilia1234@ajou.ac.kr
- X선 형광분석은 40-60kV의 전압하의 X-선관에서 발생한 X-선이 시료(powder pellet또는 glass bead)에 조사되어 시료를 구성하고 있는 원소의 궤도전자를 여기시킨다. 여기상태의 전자가 기저상태로 돌아감으로써 연속적인 전자 재배열이 일어나는 동안 원소의 특성에 따른 형광 X-선이 방출되면, 적절한 분광결정에 의해 파장에 따라 일정한 각도로 회절된 이 특성X-선의 강도를 검출기로 측정하여 각 원소의 정성 및 정량이 가능
- X-ray generat : 4KW-60KV-150mA(Stability:+-0.005%)
- X-ray tube type : End-window type Rh target equivalent
- X-ray tube window thickness : < 50um better
- Spectrometer X-ray irradiation type : Bottom irradiation type
- Spectrometer analysis element range :Be(4)~U(92)
- Mapping system : 0.5mm diameter micro area analysis
- Deterct : SC(Ti[22]~U[92]), F-PC(Be[4]~Zn[30])
- Goniometer angular range : (SC[5 to 118], F-PC[13 to 148])
- X-ray tube type : End-window type Rh target equivalent
- X-ray tube window thickness : < 50um better
- Spectrometer X-ray irradiation type : Bottom irradiation type
- Spectrometer analysis element range :Be(4)~U(92)
- Mapping system : 0.5mm diameter micro area analysis
- Deterct : SC(Ti[22]~U[92]), F-PC(Be[4]~Zn[30])
- Goniometer angular range : (SC[5 to 118], F-PC[13 to 148])
- 각종 원료 및 제품, 광물, 금속 등의 시료에 대해 원소들의 성분함량을 X-ray 튜브에서 발생하는 형광 X선을 Single crystal을 통해 파장별로 분광 및 세기를 측정, 원소별로 정성 및 정량분석