- Multi Purpose X-ray Diffractometer는 X-ray를 이용하여 powder의 pattern을 분석하여 단결정 및 다결정 상태의 고체 물질 내부 결정구조를 파악하고 이미 알려진 pattern을 이용하여 임의의 시료의 구성을 알 수 있다. 특정 X-선을 시료에 조사시켜 회절된 회절양상을 이용하여 결정질, 비결정질 재료의 상분석, 결정의 배향성에 대한 물질의 구조해석을 고유의 2θ값으로부터 얻는다. 회절이 일어나는 각도와 회절강도 측정을 통해 물질의 결정상태, 결정 구조, 화학적 결합상태 등 물질구조해석에 활용된다.

- Max. rated output: 18kW
- Stability: Within ±0.01%
- Scanning mode: 2θ/ θ coupled 2θ, θ independent
- Angular Range(2θ) :2 to +146deg
- Step feed width(2θ/ θ): 0.002 to 90deg.

- 결정질 혹은 비결정질 분말 시료의 정성적인 상분석
- Analytical Profile Fitting과 정량적인 상분석법
- 결정계수와 결정크기 결정법 (Lattice Parameter Crystallite Size Determination)
- Powder Diffraction Data를 통한 결정구조해석
- Space group 결정